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在使用紅外測(cè)溫時(shí)，如何減少環(huán)境與背景輻射的影響
點(diǎn)擊次數(shù)：3580 更新時(shí)間：2017-11-24
在使用紅外測(cè)溫時(shí)，如何減少環(huán)境與背景輻射的影響
當(dāng)我們?cè)趹敉庥?strong>紅外測(cè)溫進(jìn)行電力設(shè)備紅外檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)儀器所接收的紅外輻射除了受檢設(shè)備相應(yīng)部位的輻射還有其自身發(fā)射的輻射，以外，還會(huì)包括設(shè)備其他部位和背景的反射，以及直接射入太陽輻射。這些輻射都將對(duì)設(shè)備待測(cè)部位的溫度造成干擾，對(duì)故障檢測(cè)帶來誤差。
為了減少環(huán)境與背景輻射的影響，應(yīng)采取如下對(duì)策措施：
盡可能選擇在陰天或者在日落左右傍晚無光照時(shí)間進(jìn)行
這樣可以防止直接入射、反射和散射的太陽輻射影響，對(duì)戶內(nèi)設(shè)備可以采用關(guān)掉照明燈，以及要避開其他的輻射影響。紅外測(cè)溫
對(duì)于高反射的設(shè)備表面
應(yīng)該采取適當(dāng)措施來減少對(duì)太陽輻射及周圍高溫物體輻射的影響。或者改變檢測(cè)角度，找到能避開反射的*角度進(jìn)行檢測(cè)。
為減少太陽輻射及周圍高溫背景的輻射影響
可在檢測(cè)時(shí)采取適當(dāng)?shù)恼趽醮胧蛘咴诩t外熱像儀器上加裝適當(dāng)?shù)募t外濾光片，以便濾除太陽及其他背景輻射。
選擇參數(shù)適宜的儀器和檢測(cè)距離進(jìn)行檢測(cè)，使受檢測(cè)的設(shè)備部位充滿儀器視場(chǎng)，從而減少背景輻射的干擾
紅外測(cè)溫尤其是溫度對(duì)于設(shè)備的使用壽命，使用時(shí)間，使用地點(diǎn)，都會(huì)給出相應(yīng)的建議，讓您的生產(chǎn)過程中達(dá)到zui高的效率，的使用狀態(tài)
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